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光耦测试仪系统

光耦测试仪系统

陕西天士立科技有限公司/STD2000/光耦测试仪系统 可以测试Si,SiC,GaN&IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR等电子元器件的静态直流参数和IV曲线 （如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压/VCE(on)、跨导/Gfe/Gfs、压降/Vf、导通内阻Rds(on)）。 测试种...

发布日期：2024-07-03  阅读次数：151 查看详情 >>
光耦时间参数测试仪系统

光耦时间参数测试仪系统

陕西天士立科技有限公司/STD2000/光耦时间参数测试仪系统 可以测试Si,SiC,GaN&IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR等电子元器件的静态直流参数和IV曲线 （如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压/VCE(on)、跨导/Gfe/Gfs、压降/Vf、导通内阻Rds(on)）。 ...

发布日期：2024-07-03  阅读次数：145 查看详情 >>
光耦开关时间参数测试仪系统

光耦开关时间参数测试仪系统

陕西天士立科技有限公司/STD2000/光耦开关时间参数测试仪系统 可以测试Si,SiC,GaN&IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR等电子元器件的静态直流参数和IV曲线 （如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压/VCE(on)、跨导/Gfe/Gfs、压降/Vf、导通内阻Rds(on)）...

发布日期：2024-07-03  阅读次数：140 查看详情 >>
IGBT测试仪系统

IGBT测试仪系统

陕西天士立科技有限公司/STD2000/IGBT测试仪系统 可以测试Si,SiC,GaN&IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR等电子元器件的静态直流参数和IV曲线 （如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压/VCE(on)、跨导/Gfe/Gfs、压降/Vf、导通内阻Rds(on)）。 测...

发布日期：2024-07-03  阅读次数：132 查看详情 >>
IGBT参数测试仪系统

IGBT参数测试仪系统

陕西天士立科技有限公司/STD2000IGBT参数测试仪系统 可以测试Si,SiC,GaN&IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR等电子元器件的静态直流参数和IV曲线 （如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压/VCE(on)、跨导/Gfe/Gfs、压降/Vf、导通内阻Rds(on)）。 ...

发布日期：2024-07-03  阅读次数：137 查看详情 >>
晶体管正向偏置安全工作区测试系统ST-FBSOA_X

晶体管正向偏置安全工作区测试系统ST-FBSOA_X

ST-FBSOA/IGBT/MOS正向偏置安全工作区测试系统，可以测试Si,SiC,GaN,材料的器件级和模块级的IGBT,MOSFET的正向偏置安全工作区，安全工作区设备包括“正向偏置安全工作区FBSOA”“反向偏置安全工作区RBSOA”“短路安全工作区SCSOA” 专注半导体检测·电学检测·可靠性检测·老化实验 基础信息 Si,SiC,GaN,材料的器件级和模块级的IGBT,MOSF...

发布日期：2024-07-03  阅读次数：163 查看详情 >>
​​ STD1600元器件静态参数测试仪

​​ STD1600元器件静态参数测试仪

基础信息 测试种类：Diode、BJC、SCR、IGBT、MOSFET、JFET、三端稳压IC、基准IC IV输出：电压MAX1600V，电流MAX2A 测试参数：耐压、压降、放大倍数、开启电压、导通内阻、输出电压、饱和电流、夹断电压、正向跨导、触发电流、维持电流 自动工作模式：自动检测有无DUT,有则重复测试,无则重复检测； 手动工作模式：开关按下对DUT测试,长按重复测试,松开停测； 产品...

发布日期：2024-07-03  阅读次数：152 查看详情 >>
IGBT静态参数测试仪STD2002

IGBT静态参数测试仪STD2002

测试对象：IGBT、Mosfet、Diode 测试参数：静态参数，包括IGBT的IGES、ICES、VGE(th)、VCE(sat)以及快恢复二极管的VF、ICES等参数 标准:《绝缘栅双极晶体管（IGBT）》（GB/T29332-2012） 该测试仪具有自动保护功能，且所有参数的设定及显示均采用液晶屏触摸屏实现，支持U盘一键导出数据 IGBT测试IGBT测试项目测试条件测试结果栅极-发射极栅...

发布日期：2024-07-03  阅读次数：127 查看详情 >>
光耦参数测试仪STO1400

光耦参数测试仪STO1400

基础信息 测试各类三极管型的光电耦合器 1通道、10档位 源自飞思卡尔16位单片机编程 大容量EEPROM存储器可达1000种设置型号数 可编程的DUT恒流源和电压源 内置继电器矩阵自动切换信号通道 高压测试电流分辨率1uA，测试电压高达1400V 重复”回路”式测试解决了元件发热和间歇的问题 桌面台式单机，软件自校准功能 产品简述 ST-OC1400光耦参数测试仪是一款布局紧凑、功能全面、界...

发布日期：2024-07-03  阅读次数：131 查看详情 >>
半导体分立器件静态参数测试仪系统STD2000

半导体分立器件静态参数测试仪系统STD2000

基础信息 测试分析：功率器件研发设计阶段的初始测试 失效分析：失效器件测试，失效机理，设计方案改善 选型配对：器件焊接PCB之前测试，按器件一致性分类配对 来料检验：质量部对入厂器件进行抽检/全检，把控良品率 量产测试：连接机械手、扫码枪、分选机等进行量产测试 产品特点 三代半：优秀的性能应对第三代半导体及传统器件，Si,sic,GaN器件 测试品类：覆盖25类常见的电子元器件及IC类，且支持...

发布日期：2024-07-03  阅读次数：126 查看详情 >>
IGBT模块直流参数测试系统STD6500

IGBT模块直流参数测试系统STD6500

基础信息 开发背景：大功率IGBT和Diode模块j静态参数程控式设备 技术标准：IEC60747-2/GB/T4023-1997半导体器件分立器件和集成电路第2部分（整流二极管） 技术标准：IEC60747-9∶2007/GB/T29332-2012半导体器件分立器件第9部分（绝缘栅双极晶体管/IGBT） 应用领域：如电网、轨道机车、工业电机等、电动汽车。测试连接可以是“软连接线”也可是“自动...

发布日期：2024-07-03  阅读次数：128 查看详情 >>
IGBT模块动静态测试自动化产线

IGBT模块动静态测试自动化产线

IGBT模块动静态测试自动化产线 工作站 模块上料工站 加热工站 高温绝缘测试工站 高温静态测试工站 高温动态测试工站 冷却工站 常温静态测试工站 弧度测试工站 模块下料工站 IGBT模块动静态测试自动化产线 典型特点 根据工艺定制化设备生产流程，同时可整合多款测试设备共线生产 与自动化产线深度融合，并上传生产数据至MES 不同产品测试上线，可通过更改测试工装，实现多款产品的测试切换 10分...

发布日期：2024-07-03  阅读次数：135 查看详情 >>
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