三代半：优秀的性能应对第三代半导体及传统器件，Si, sic,GaN 器件

测试品类：覆盖 25 类常见的电子元器件及 IC 类，且支持定制扩展

功能丰富：轻松表征元器件“静态特性”“IV 曲线”“Cxss”“CV”

分析筛选：功能全面，配置丰富，胜任实验室场景中各类电参数表征

量产测试：1h高达 7K~12K 的测试效率，可连接“分选机”“编带机”Prober 接口、16Bin

一键加热：一键脉冲自动加热至+130°C，耗时< 1s

高压源：1400V (选配 2KV)

高流源：40A(选配 100A,200A,500A)

驱动电压：20V/10uA~100mA (选配+40V/10uA~100mA)

漏电测量：1nA 漏电持续稳定测量，表现出优秀的一致性和稳定性，更有1.5pA 微电流测量选件可供选择。

高精度：16 位 ADC/DAC，0.1%精度，1M/S采样速率

程控软件：基于Lab VIEW 平台开发的填充式菜单软件界面

夹具工装：适配各类封装形式的器件，自动识别器件极性 NPN/PNP

校准：系统自带校准软件，也可通过 RS232 接口连接数字表进行校验