- 产品功能
- 量程精度
- 测试原理
- 配置选型
- 常见问答
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缩略图 |
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品牌 |
Tianshili/天士立 |
Tianshili/天士立 |
Tianshili/天士立 |
Tianshili/天士立 |
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型号 |
STO1400 |
STO1000 |
STD2000-OC |
STD2000-OC |
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价格 |
¥0.6~1.3万 |
¥3~4.5万 |
¥8~12.9万 |
¥20~35万 |
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名称 |
光耦参数测试仪 |
光耦参数测试仪 |
半导体分立器件静态参数测试系统 |
半导体分立器件静态参数测试系统 |
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测试品类 |
ü OC/光耦 |
ü OC/光耦 ü BJT/三极管 |
ü OC/光耦 ü BJT/三极管 ü Diode/二极管 ü MOSFET/场效应管 ü GBT/绝缘栅大功率管 |
ü OC/光耦 ü BJT/三极管 ü Diode/二极管 ü MOSFET/场效应管 ü IGBT/绝缘栅大功率管 ü IPM/智能功率模块 ü SCR/可控硅&晶闸管 ü 继电器、达林顿、基准&稳压IC |
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测试参数 |
1. 输入 正向压降VF 2. 输入 反向电流IR 3. 输出 暗电流ICEO 4. 输出 击穿电压V(BR)CEO 5. 传输 电流传输比CTR 6. 传输 饱和压降VCE(sat) |
1. 输入 正向压降VF 2. 输入 反向电流IR 3. 输出 暗电流ICEO 4. 输出 击穿电压V(BR)CEO 5. 传输 电流传输比CTR 6. 传输 饱和压降VCE(sat) |
1. 输入 正向压降VF 2. 输入 反向电流IR 3. 输出 暗电流ICEO 4. 输出 击穿电压V(BR)CEO 5. 传输 电流传输比CTR 6. 传输 饱和压降VCE(sat) 7. 隔离 隔离电阻Riso |
1. 正向压降 VF 2. 正向电流 IF 3. 反向电压 VR 4. 反向电流 IR 5. 暗电流 ICEO 6. 击穿电压 V(BR)CEO 7. 低电平电源电流 ICCL 8. 高电平电源电流 ICCH 9. 输出端高电平电压 VOH 10. 输出端低电平电压 VOL 11. 输出端高电平电流 IOH 12. 输出端低电平电流 IOL 13. 使能端高电平电压 VEH 14. 使能端低电平电压 VEL 15. 使能端高电平电流 IEH 16. 使能端低电平电流 IEL 17. 电流传输比 CTR 18. 饱和压降 VCE(sat) 19. 上升时间 tr 20. 下降时间 tf 21. 上升传输延迟时间 TPLH 22. 下降传输延迟时间 TPHL 23. 使能启动传输延迟 tELH 24. 使能关断传输延迟 tEHL 25. 隔离电阻 Riso |
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缩略图 |
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品牌 |
Tianshili/天士立 |
Tianshili/天士立 |
Tianshili/天士立 |
Tianshili/天士立 |
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型号 |
STO1400 |
STO1000 |
STD2000-OC |
STD2000-OC |
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价格 |
¥0.6~1.3万 |
¥3~4.5万 |
¥8~12.9万 |
¥20~35万 |
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名称 |
光耦参数测试仪 |
光耦参数测试仪 |
半导体分立器件静态参数测试系统 |
半导体分立器件静态参数测试系统 |
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量程范围 |
耐压V(BR)CEO：1~1400V 压降VF：2mV~2V 暗电流ICEO：1uA~2000uA 漏电IR：1uA~2000uA 传输比CTR：0~9999 饱和压降VCE(sat)：2mV~2V |
耐压V(BR)CEO：0.1~1400V 压降VF：0.1V~3V 暗电流ICEO：0.1uA~10mA 漏电IR：0.1uA~10mA 传输比CTR：10~10000% 饱和压降VCE(sat)：0.1V~3V |
耐压V(BR)CEO：1~1400V 压降VF：1mV~10V 暗电流ICEO：1nA~2000uA 漏电IR：1nA~2000uA 传输比CTR：0~9999 饱和压降VCE(sat)：1mV~10V |
耐压V(BR)CEO：1~2000V 压降VF：1mV~10V 暗电流ICEO：1nA~2000uA 漏电IR：1nA~2000uA 传输比CTR：0~9999 饱和压降VCE(sat)：1mV~10V |
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精度分辨率 |
电压精度2% 电压分辨率2mV 电流精度5% 电流分辨率1uA |
电压精度2% 电压分辨率1mV 电流精度5% 电流分辨率0.01uA |
电压精度1% 电压分辨率1mV 电流精度1% 电流分辨率1nA |
电压精度0.1% 电压分辨率0.1mV 电流精度0.1% 电流分辨率10pA |
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主要特点 |
测试数据可导出 |
支持电脑传输数据 |
计算机软件程控系统 |
计算机软件程控系统 |
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操作形式 |
单机 |
单机 |
系统 |
系统 |
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通道 |
1 通道 |
1 通道 |
1 通道 |
1 通道 8通道 |
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档位 |
10 档位 |
20 档位 |
16 档位（不同的板卡） |
16 档位（不同的板卡） |
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缩略图 |
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品牌 |
Tianshili/天士立 |
Tianshili/天士立 |
Tianshili/天士立 |
Tianshili/天士立 |
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型号 |
STO1400 |
STO1000 |
STD2000-OC |
STD2000-OC |
|
价格 |
¥0.6~1.3万 |
¥3~4.5万 |
¥8~12.9万 |
¥20~35万 |
|
名称 |
光耦参数测试仪 |
光耦参数测试仪 |
半导体分立器件 静态参数测试系统 |
半导体分立器件 静态参数测试系统 |
|
主要特点 |
测试数据可导出 |
支持电脑传输数据 |
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计算机软件程控系统 |
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物理规格 |
尺寸：255*305*140(mm) |
尺寸：350*450*200(mm) |
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尺寸：600*400*200(mm) |
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操作形式 |
单机 |
单机 |
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系统 |
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分选机连接 |
× |
× |
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√ |
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通道 |
1 通道 |
1 通道 |
|
1 通道 |
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档位 |
10 档位 |
20 档位 |
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16 档位（不同的板卡） |
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程控电脑 |
单片机控制 |
单片机控制 |
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嵌入式计算机 |
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缩略图 |
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品牌 |
Tianshili/天士立 |
Tianshili/天士立 |
Tianshili/天士立 |
Tianshili/天士立 |
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型号 |
STO1400 |
STO1000 |
STD2000-OC |
STD2000-OC |
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价格 |
¥0.6~1.3万 |
¥3~4.5万 |
¥8~12.9万 |
¥20~35万 |
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名称 |
光耦参数测试仪 |
光耦参数测试仪 |
半导体分立器件 静态参数测试系统 |
半导体分立器件 静态参数测试系统 |
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输入 |
正向 |
VF |
范围 |
0-10V |
0.1V～3V |
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分辨率 |
1mV |
1mV |
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精度 |
<1%+2RD |
2% |
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条件 |
0-400mA |
1mA～1A |
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反向 |
IR |
范围 |
0-2000uA |
0.1uA～10mA |
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分辨率 |
10nA |
0.01uA |
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精度 |
<1%+5RD |
5% |
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条件 |
VR=0-10V±1% |
1V～100V |
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VR |
范围 |
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5V～97V |
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分辨率 |
|
0.1V |
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精度 |
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3% |
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条件 |
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10uA～10mA |
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输出 |
暗电流 |
ICEO |
范围 |
0-2000uA |
0.1uA～10mA |
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0-2000uA |
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分辨率 |
1UA |
0.01uA |
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1nA |
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精度 |
<5% +5RD |
5% |
|
<1% +5RD |
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条件 |
BVCE=25V |
10V～1000V |
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0-1000V±1% |
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击穿 |
V(BR)CEO |
范围 |
0-1400V |
10V～1000V |
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0-1000V |
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分辨率 |
1V |
0.1V |
|
0.1V |
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精度 |
<2%+2RD |
2% |
|
<1%+2RD |
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条件 |
0-2mA |
10uA～10mA |
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0-2mA |
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传输 |
电流 |
CTR |
范围 |
0-9999 |
10～10000% |
|
0-9999 |
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分辨率 |
1% |
10% |
|
1% |
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精度 |
1% +5RD |
2% |
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条件VCE |
0-20V |
1V～25V |
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0-10V |
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条件IF |
0-100mA |
1mA～1000mA |
|
0-400mA±1% |
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饱和 |
VCE(sat) |
范围 |
0-2.000V |
0.1V～3V |
|
0-10.000V |
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分辨率 |
2mV |
1mV |
|
1mV |
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精度 |
1% +5RD |
2% |
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1% +5RD |
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条件IC |
0-1.000A |
1mA～6A |
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0-400mA |
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条件IF |
0-1.000A |
1mA～1000mA |
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0-400mA±1% |
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隔离 |
隔离 |
Riso |
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不支持 |
不支持 |
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选配 |
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开关 |
上升 |
tr |
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不支持 |
不支持 |
|
选配 |
|
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下降 |
tf |
|
不支持 |
不支持 |
|
选配 |
|
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高电平 |
TPLH |
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不支持 |
不支持 |
|
选配 |
|
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低电平 |
TPHL |
|
不支持 |
不支持 |
|
选配 |
029-88225591
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