发布日期:2023-12-29  浏览次数:198
ST-AC1200 晶体管动态特性测试系统

测试种类:Si(SiC/GaN)IGBT , Diode , MOSFET(选配BJT)

输出能力电压最大1200V(选配2000V);电流最大100A(可扩展200A/300A/500A)

测试参数:开关特性;栅极特性Qg;反恢特性Qrr_FRD;栅极阻容特性和短路雪崩特性可选配

工作模式:程控脉冲测试


  • 产品功能
  • 量程精度
  • 测试原理
  • 配置选型
  • 常见问答

高压源:1200V(选配 2000V)

高流源:100A(选配 200A/300A/500A)

驱动电压:±20V(选配±30V)

时间分辨率:1ns(选配 400ps/200ps/100ps)

系统杂感:<20nH

测试对象:Si(SiC/GaN)IGBT , Diode , MOSFET(选配BJT)

变温测试:常温~150℃/200℃

感性负载:程控电感(0.01~160mH,步进10uH)

阻性负载:程控电阻(1Ω,2Ω,5Ω,10Ω,50Ω)备用三个

测试管型:可以测试N沟道和P沟道的IGBTs , MOSFETs

测试标准:IEC60747-9/IEC60747-2,GB/T29332/GB/T4023



1、主机                      1台

2、工控电脑(内置)   1台

3、测试夹具                1只(可选配)

4、电源线                   1根

5、通信线                   1根

6、说明书                   1份

7、合格证                   1份

8、保修卡                   1份

服务热线:
029-88225591
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